Создание комплекта тестовых плат для проверки модулей спутниковых навигационных приёмников (ВКР)
Материал из SRNS
Версия от 01:14, 25 октября 2013; Boldenkov (обсуждение | вклад)
Научный руководитель: Болденков, Евгений Николаевич
В настоящее время происходит быстрое развитие аппаратуры потребителей спутниковой навигации. Цикл жизни поколений навигационных модулей в области массового применения составляет 2-3 года. Таким образом, каждый год ряд производителей выпускает новые версии навигационных модулей с новыми характеристиками. Для испытаний и оценки характеристик данных модулей необходимо создать набор тестовых плат, обеспечивающих работу модулей и подключения к ним всех необходимых сигналов.
Целью работы является разработка и создание комплекта тестовых плат, а также проведение испытаний современных навигационных модулей.
Уровень сложности можно оценить как средний.
Содержание |